تست مقاومت عایق یک کابل یا تجهیز را میتوان با تجهیزات و روشهای متفاوتی سنجید. دو تست رایج آن، تست میگر و تست hipot میباشند.
تست میگر: در این روش تستر بین دو نقطهی عایقی که میخواهد تست را انجام دهد ولتاژ DC بالایی تولید میکند که در نتیجه آن جریان هدایت شده و طبق قانون اهم، مقاومت بین این دو نقطه اندازه گیری میشود؛ که مقدار مقاومت نشان دهنده میزان سطح عایق یا همان مقاومت عایق میباشد.
همانطور که گفته شد این دو تست مقاومت عایق را با اندازه گیری نشتی جریان مشخص میکنند. تست hipot عمدتا برای تشخیص ظرفیت ولتاژی است که یک عایق میتواند قبل از شکست مقاومت کند؛ که با اعمال ولتاژ بالا جریان نشتی رادر طول تست برای تعیین کیفیت عایق اندازه گیری میکند؛ و گاها ولتاژ زیادی به هادی تحت تست اعمال میشود تا زمانی که شکست اتفاق بیفتد؛ که استقامت عایق را در این روش میسنجد. در این تست به دلیل اینکه ممکن است محصول تحت تست آسیب ببیند معمولا در کارخانههای تولیدی برای تست محصول خود انجام میشود؛ و میگر نمیتواند این تست را انجام دهد؛ بنابراین تفاوت تست عایق میگر و hipot در دامنه ولتاژ اعمالی و زمان تست میباشد.
با همه این تفاسیر تست میگر معمولا با ولتاژهای کمتر از ولتاژ نامی هادی انجام میشود و در نتیجه به تجهیز تحت تست آسیبی وارد نمیشود. در حالی که آزمایش پتانسیل بالا (hi-pot) ولتاژی بیش از ولتاژ نامی هادی و در نتیجه فشارهای الکتریکی زیادی را به عایق اعمال میکند تا به طور فعال باعث شکست در یک نقطه مانند انتهای کابلهای ضعیف از نظر عایق بودن کابل شود. لازم به ذکر است تست HIPOT نسبت به محیطی که تست در آن انجام میشود حساس است و اگر تست به درستی انجام نشود میتواند به عایق تحت تست اسیب وارد کند. به همین دلیل آن را تست مخرب در نظر گرفته اند.
Leave A Comment